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中國駐福岡總領館成巖副總領事一行蒞臨調研PMT日本研發(fā)中心

2023年1月17日上午9時(日本當地時間),中國駐福岡總領館副總領事成巖一行到訪調研PMT日本研發(fā)中心??偨浝鞹om Tai、研發(fā)經理Sean Wu對領事們的到訪表示了熱烈歡迎。


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在總經理Tom Tai的帶領下,領事們走進PMT日本研發(fā)中心,了解PMT的發(fā)展歷程。雙方在測量尤其是便攜式測量領域展開交流,并就測量領域未來技術突破的可能性進行了深度探討。


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隨后,Tom向大家詳細地演示了PMT ALPHA測量臂的測量過程。通過對掃描測量臂的功能展示,領事們對PMT的便攜式測量技術表示了充分肯定。副總領事成巖指出,自黨的二十大以來,我國更加堅定建設“科技強國”的方針,希望PMT在今后的發(fā)展中,繼續(xù)加強引領性技術研究,凝聚民企科技力量。


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交流過程中,針對全球科技發(fā)展宏觀態(tài)勢,雙方均對目前的測量技術做了深刻剖析和研判,達成了共識。成巖一行也表示,此次來訪,一是深入了解PMT日本研發(fā)中心的發(fā)展情況,二是臨近春節(jié),對在日中國留學生表示慰問。


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在參觀交流即將結束時,Tom Tai對中國駐福岡總領館一行的支持與慰問致以感謝。并表示PMT成長于中國,一路發(fā)展離不開國家的大力支持。發(fā)展不息、創(chuàng)新不止,PMT于日本的學習與建設亦是在凝聚測量產業(yè)的合力,拓展更寬廣的思維模式,得到更快速的發(fā)展,實現高水平科技自立自強。


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